產(chǎn)品分類
SEM 分辨率測定標樣
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SEM分辨率測定標樣
SEM Resolution Test Standard
高質(zhì)量的分辨率標樣是在SEM、CD-SEM、FESEM、FIB、顯微探針、俄歇和SIMS系統(tǒng)上獲得最佳的分辨率、設置、光束大小和像散校正的必不可少的工具。行業(yè)標準為：碳基底金顆粒標樣和碳基底錫球標樣。
碳基底的金顆粒具有豐富的特征，為二次電子（SE）成像提供了極好的信號強度。它們同樣適用于低電壓背散射電子（BSE）成像。錫球是近乎完美的圓形，形狀易于識別,可用于不允許使用金顆粒的掃描電鏡應用。針對不同的成像應用提供了大小不同的多種顆粒。碳基底的直徑均為6mm，高度均為2mm。
碳基底金顆粒分辨率標樣
碳基底金顆粒分辨率標樣上的金顆粒具有相當尖銳的特征，分散的單顆粒，與碳基底形成極佳對比。有4種不同尺寸的EM-Tec碳基底金顆粒分辨率標樣可選：
1、5-200nm金顆粒，非常適合標準SEM的分辨率測試。用于15000倍或更高的放大倍數(shù)。
2、30-300nm金顆粒，用于低電壓和中等放大倍數(shù)分辨率測試。金顆粒上有一些漂亮的特征。用于10000倍或更高的放大倍數(shù)。
3、3-50nm金顆粒，用于SEM和FESEM的高分辨率測試。用于50000倍或更高的放大倍數(shù)。
4、2-30nm金顆粒，用于FESEM的超高分辨率測試。用于100000倍或更高的放大倍數(shù)。
碳基底錫球分辨率標樣
碳基底上的錫球為測定SEM、FESEM、FIB、CD-SEM、顯微探針、俄歇和SIMS系統(tǒng)的分辨率提供了一個極好的測試標樣。各種尺寸的近乎完美的圓形球體特別適用于確定圖像質(zhì)量、亮度和對比度（灰度）、最佳探針尺寸和像散校正。碳基底錫球標樣用于不允許使用碳基底金顆粒標樣的掃描電鏡應用。圓形球體的形狀比金顆粒更容易識別和使用。然而，整體信號水平低于碳基底金顆粒標樣。有兩種尺寸的錫球分辨率校準標樣可用：
1、5nm–30μm錫球，該分辨率標樣涵蓋了較寬的放大倍數(shù)范圍，并且也適用于中等和較低的放大倍數(shù)范圍（從大約100倍開始）。較大的錫球，在較低的電壓范圍內(nèi)也很有用。從較低的放大倍數(shù)開始，以更高的放大倍數(shù)放大較小的錫球。
2、10-100nm錫球，高分辨率SEM和FESEM的極好測試標樣，具有一層漂亮光滑的錫球。用于300000倍或更高的放大倍數(shù)。
具有鋼結(jié)構(gòu)工程專業(yè)承包二級資質(zhì)、建筑工程施工總承包貳級資質(zhì)；公司主營產(chǎn)品包括重鋼、輕鋼、網(wǎng)架及檁條、彩鋼板等鋼結(jié)構(gòu)產(chǎn)品；近年來，公司承接了國內(nèi)外大型結(jié)構(gòu)件、橋梁、車庫、標準化廠房等具有較大影響力的一系列項目；產(chǎn)品遠銷白俄羅斯、贊比亞、印尼等國家，得到了一致好評。
關鍵詞： SEM 分辨率測定標樣
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