幫助文檔
加拿大KA Imaging_BrillianSe探測(cè)器演示視頻
發(fā)布時(shí)間：2025-08-13
加拿大KA Imaging MicroCT系統(tǒng)及X射線探測(cè)器
用于探測(cè)研究生物材料、聚合物等弱X射線吸收材料。(傳統(tǒng)XCT吸收成像的痛點(diǎn)：低密度材料因吸收低被“無(wú)視”)
BrillianSe探測(cè)器
“非晶硒+CMOS”直接轉(zhuǎn)換專有技術(shù)(無(wú)閃爍體;TQE&分辨率高)，相襯成像方式，可用于硬x射線及同步加速器線束；可搭建XCT系統(tǒng)和替代已有XCT的探測(cè)器。
此外，加拿大KA Imaging公司還供應(yīng)：
Reveal 35C平板探測(cè)器
便攜式光譜分離雙能探測(cè)器，單次曝光可獲取：DR圖像、低密度和高密度圖像共三張圖像，無(wú)運(yùn)動(dòng)偽影；具有偽彩功能。可用：安檢、工業(yè)檢測(cè)等現(xiàn)場(chǎng)無(wú)損檢測(cè)。
inCiTe臺(tái)式計(jì)算機(jī)斷層掃描成像/MicroCT(XRM)：
用自研BrillianSe探測(cè)器，相位襯度替代傳統(tǒng)吸收襯度，對(duì)比度提高約3個(gè)量級(jí)；
inCiTe 2.0立式XCT/MicroCT(XRM)：
可選探測(cè)器實(shí)現(xiàn)相襯或光譜成像方式。獲取投影圖后可重建重構(gòu)。
附：BrillianSe探測(cè)器演示視頻
BrillianSe探測(cè)器演示視頻
南京覃思科技有限公司總部
地址：南京市中山北路281號(hào)新城市廣場(chǎng)虹橋中心2-728B
南京覃思科技有限公司北京分公司
微信咨詢